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廣電計量AEC-Q101認證試驗,半導體器件檢測在SiC第三代半導體器件的AEC-Q認證上具有豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗，為您提供專業(yè)可靠的AEC-Q101認證服務，同時，我們也開展了間歇工作壽命（IOL）、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高壓蒸煮（Autoclave）試驗服務，設備能力覆蓋以SiC為第三代半導體器件的可靠性試驗能力。

車燈是整車的重要組件，圍繞車燈及其附件的可靠性試驗標準紛繁復雜，各主機廠的試驗標準均有不同描述，通用性較差。廣電計量提供一站式AEC-Q102產(chǎn)品試驗,光電器件車規(guī)級認證服務。

AEC-Q200產(chǎn)品測試,車軌元器件全系列檢測標準詳細規(guī)定了車內(nèi)各種環(huán)境下被動元件的使用溫度范圍，對各類元器件的測試項目作了嚴格的區(qū)分，同時，對元器件通用系列的檢測適用性做了完善的規(guī)定。廣電計量可為客戶提供AEC-Q200 全項目檢測認證服務，出具AEC-Q檢測驗證報告，致力于提升客戶產(chǎn)品競爭力，快速進入供應商。

AEC-Q認證服務，車規(guī)電子元器件認證能力提供全套的測試認證服務，通過使用各種測試分析技術和分析程序確認產(chǎn)品的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式或機理，確定其最終原因，提出改進設計和制造工藝的建議，來消除失效并防止失效的再次發(fā)生，提高產(chǎn)品的可靠性。